GWB-200JA型引伸计标定仪 引伸计检定
产品简介:GWB-200JA型引伸计标定仪,是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG 762-2007引伸计检定规程要求,专门用于对各类引伸计的标定,也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。
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结构特点及读数方式:
        1. 本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合,同时配有加长立柱附件,配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样,可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要,配置专用配件进行精密微变形量计量。

        2. 精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹副组成。其最大量程25㎜;最小分度(游标分度)0.0002㎜;旋转外筒分度0.002㎜。

位移变化读数为:

L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)

其中: a0 b0 c0为相应位移变化前读数

a-内筒毫米刻线读数

b-外筒刻线读数

c-游标刻线读数

使用说明:
        请依据JJG  762-2007引伸计检定规程要求,进行引伸计的检定:
        1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格,选择与测试试样基本一致的分离试样。
        2、调整两测量支臂的位置,获得适宜的检定空间;调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样保证同轴;调整测微头与下底座的距离,以保证测微头的有效行程。一切调整好后注意旋紧各个所需固紧部位,在检定过程中除准许运动位移的部分外,都不准许有任何滑动或松动。
        3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试:
        1)检定范围应根据引伸计需要测试材料的技术参数决定。例如,使用50㎜标距引伸计测试钢材试样的σP0.2技术数据,那么请您选择1㎜的检定量程。如果测量n值则需要检定25㎜的检定量程。
        2)对检定点的选择,一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1㎜的检定量程内,最好检定10点,即每0.1㎜检一点。
        3)检定引伸计时一定用整数刻度倍读法,不要用游标估算读数或小数尾数读数,因为每一次的十点读数已造成了读数的疲劳,估算读数或小数尾数读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法最清晰简单准确,出现误差的机率最小,即便出现也会及时发现,因为整数刻度倍读数的误差,其引伸计误差值也会成倍数增加,这种粗大误差会被很快及时发现。
        4、加长立柱的使用:在使用基本立柱检定引伸计时,无法保证该引伸计的标距空间时,取掉基本立柱上保护帽,将加长立柱插入主立柱对准V型槽,旋紧上螺丝。一定要固紧后,方可使用。
主要配置:
1. 组合校准杆2件。用于组合多种模拟分离试样。
2. 刀片2件。装置于组合校准杆上:用于COD或JIC夹规检定。
3. 横试片2件。装置于组合校准杆上:用于横向引伸计的检定。
4. 板件2件。装置于组合校准杆上:用于模拟板材试样的检定。
5. φ10×120杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟10㎜以上直径试样的检定。
6. φ10×50杆件1件。置于测微头连接套内用于模拟10㎜以上直径试样的检定。
7. φ10/φ5×100变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5㎜以下直径试样的检定。
8. φ10/φ5×50变径杆1件。置于上支臂卡簧孔内用于模拟5㎜以下直径试样的检定。
9. 170㎜加长立柱1件。用于延长标定仪高度。
10. 联接套1件。置于微分测头滑动量杆φ10端头上,连接分离试样进行检定。

维护与保养:
1.上、下支臂拆装时,应防止定位钉或钢球的脱落,抱紧卡口过紧只允许用螺钉顶开。1、仪器出厂时精密微分测量头的精度已调校好,使用中不得自行拆卸。
2.应在清洁无尘环境使用,并注意随时保持仪器的清洁无尘。
3.注意防止外力损伤及锈蚀的产生。
4.上、下支臂拆装时,应防止定位钉或钢球的脱落。
5.定期交有关计量部门复检。


技术参数:

1、测量引伸计标距范围Lmax 500㎜
2、测量支座上支臂安装孔径  φ10;φ28
3、微分测头读数内筒轴向刻度  0.5㎜/格
4、微分测头读数外筒圆周刻度 0.002㎜/格
5、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002㎜/格
6、高精密微分测头精度指标
标定仪示值误差:
校准范围不超过1/3㎜受检点时:±0.5μm 绝对误差
校准范围超过1/3㎜受检点时:±0.15%   相对误差


参照标准:
JJF   1096-2002 引伸计标定器校准规范
ISO   9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定
JJG   762-2007 引伸计检定规程

可进行0.5级引伸计的标定 受检点